xrd可以测什么

X射线衍射（X-ray diffraction，简称XRD）可以用来测定物质的结晶结构及其物理和化学性质。具体来说，XRD可以用来测量以下内容：

1. 结晶体的晶体结构：XRD可以确定晶体中原子的排列方式和晶格参数。通过测量X射线的衍射角度和强度，可以推断出晶格和晶体结构的信息。

2. 晶体的晶胞参数：XRD可以通过测量X射线的衍射角度，确定晶胞的大小和形状，从而推断出晶胞参数，如晶格常数、晶胞体积等。

3. 晶体的晶体学指数：XRD可以通过测量X射线的衍射角度和强度，确定晶体的晶体学指数，如晶体的点群、空间群等。

4. 晶体的晶体学方法：XRD可以通过测量X射线的衍射角度和强度，确定使用何种晶体学方法描述晶体的结构和性质。

5. 晶体的结晶度和晶体质量：XRD可以通过测量X射线的衍射强度，确定晶体的结晶度和晶体质量，如晶体中的缺陷、杂质等。

6. 物质的相变和相变温度：XRD可以通过测量X射线的衍射角度和强度，确定物质的相变过程和相变温度。

综上所述，XRD可以用于测量晶体的结构、晶胞参数、晶体学指数，以及物质的相变和相变温度等信息。

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